SHINE XRD Portátil

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El difractómetro de rayos X portátil SHINE es un difractómetro de rayos X portátil desarrollado independientemente por LANScientific con la combinación de tecnologías XRD, XRF y software informático. Las muestras mediante instrumento de difracción de rayos X, análisis del patrón de difracción, material con composición del material, interno información como la estructura o forma atómica o molecular (ingrediente material, ingredientes secundarios o elementos traza de la información de identificación de la fase cristalina).

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    Esta combinación no existe.