SHINE XRD Portátil

El difractómetro de rayos X portátil SHINE es un difractómetro de rayos X portátil desarrollado independientemente por LANScientific con la combinación de tecnologías XRD, XRF y software informático. Las muestras mediante instrumento de difracción de rayos X, análisis del patrón de difracción, material con composición del material, interno información como la estructura o forma atómica o molecular (ingrediente material, ingredientes secundarios o elementos traza de la información de identificación de la fase cristalina).